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北京卓立漢光儀器有限公司
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產品型號
品 牌
廠商性質其他
所 在 地北京市
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更新時間:2024-04-08 09:58:06瀏覽次數:123次
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卓立漢光全新一代全焦面影像校正光譜儀,采用全焦面非對稱影像校正技術,極大程度的抑制多種光學像差,獲得了理想的成像效果,提升了光譜儀的信號強度和分辨率。同時使光譜儀在寬波段范圍內全焦面都擁有極小的像差,呈現出近乎的影像效果,大幅度拓展光譜分析的應用領域,可被用于空間分辨的實驗,實現多通道實時探測。
卓立漢光開發的新一代全焦面影像校正光譜儀,采用全焦面非對稱影像校正技術,極大程度的抑制多種光學像差,獲得了理想的成像效果,從而提升了光譜儀的信號強度和分辨率水平。同時使光譜儀在寬波段范圍內全焦面都擁有極小的像差,整個像面上都呈現出近乎的影像效果,大幅度拓展光譜分析的應用領域,可被用于空間分辨的實驗,實現多通道實時探測,極大地提升光譜測試分析質量。
HiperS-320i全焦面影像校正光柵單色儀/光柵光譜儀功能及特點
光柵在軸旋轉光柵利用率提高15%。(1200g/mm光柵,波長550nm位置)
啟用分辨率增強模塊,分辨率*大可進一步提升約20%。
自動調焦獲取*佳焦平面
注:9芯光纖束/100um芯徑,成像面高度3.8mm
規格參數表(@1200g/mm光柵條件下)
型號
HiperS-320i
焦距(mm)
320
相對孔徑
F/4.4
掃描范圍(nm)
0~1430
光譜分辨率(nm)-PMT
0.06
光譜分辨率(nm)-CCD(15um)
0.12
倒線色散(nm/mm)
2.29
波長準確度(nm)
±0.2
波長重復性(nm)
±0.025
*小步距(nm)
0.005
雜散光水平
5×10-5
焦平面尺寸
29 (w) × 14 (h)
光軸高度(mm)
156.3~171.3
光柵規格
68 × 68
光柵臺
三光柵在軸旋轉塔臺
狹縫規格
縫寬0.01-3mm連續手動可調,可選配自動狹縫;逢高2,4,14可更換
外形尺寸(mm)、重量(kg)
591 × 460 × 260 (L × W × H),30kg
通訊接口
標配USB2.0,可選RS-232
規格參數表@不同光柵
光柵(g/mm)
2400
1800
1200
600
300
150
0.91
1.39
4.87
9.97
20.13
機械掃描范圍(nm)
0~715
0~953
0~1430
0~2860
0~4290
0~11440
掃描步距(nm)
0.0025
0.0035
0.01
0.02
0.04
狹縫光譜分辨率(nm)
0.03
0.24
0.48
0.048
0.073
0.256
0.523
1.06
CCD單次攝譜范圍(nm@30mm CCD)
26.4
40.3
66.4
141.2
289.1
583.8
±0.1
±0.15
±0.4
±0.8
±1.6
0.015
0.025
0.05
0.1
0.4
注1:狹縫光譜分辨率,常規光譜儀在中心波長435.83nm,狹縫寬度10um;
注2:CCD單次攝譜范圍、倒線色散為中心波長為435.83nm下的典型值,隨著中心波長增加,攝譜范圍變窄;
注3:隨著中心波長的增大,倒線色散數值減小,隨著中心波長減小,倒線色散數值增大;
注4:直入狹縫無法配置電動狹縫。
典型型號表
描述
HiperS-3204i
側入口、CCD雙出口
HiperS-3205i
側入口、狹縫直出口
HiperS-3206i
側入口、CCD直出口
HiperS-3207i
側入口、狹縫雙出口
HiperS-3208i
側入口、CCD直出口、狹縫側出口
HiperS-3224i
雙入口、CCD雙出口
HiperS-3227i
雙入口、狹縫雙出口
HiperS-3228i
雙入口、CCD直出口、狹縫側出口
HiperS-3247i
側入口、狹縫雙出口、紫外鍍膜
HiperS-3248i
側入口、CCD直出口、狹縫側出口、紫外鍍膜
注1:本型號系列,為手動狹縫(電動狹縫需要額外選擇)
注2:本型號系列,需要額外選配光柵,*多可配置3塊光柵;
注3:本型號系列,不包含濾光片輪、快門,需要額外選擇附件
光譜儀HiperS-3208i外形尺寸圖:
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