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武漢凱尼斯科技有限公司
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HYPERION II是紅外顯微鏡領域的創新力量。它提供低至衍射極限的紅外成像，并在ATR顯微鏡中設定基準。它將FT-IR和紅外激光成像（ILIM）顯微鏡結合在一個設備中，提供了三種測量模式：透射、反射和ATR。
靈活、精確、可配置、適應性強，始終處于可能的極限。
HYPERION II是紅外顯微鏡領域的創新力量。它提供低至衍射極限的紅外成像，并在ATR顯微鏡中設定基準。它將FT-IR和紅外激光成像（ILIM）顯微鏡結合在一個設備中，提供了三種測量模式：透射、反射和ATR。
一臺儀器中的QCL 和 FT-IR
用戶可以使用在一臺儀器中結合了FT-IR和QCL技術的紅外顯微鏡。這樣，我們為生命科學和材料研究打開了一扇全新的大門。
收集FT-IR光譜，選擇您想使用QCL的波長，并在幾秒鐘內創建令人驚嘆的化學圖像。
通過這種全新的FT-IR和紅外激光成像方法，我們終于為用戶、研究人員和科學家提供了一種開發新應用的工具，同時也為改進已經建立和驗證的方法提供了一種工具。
的真正的 QCL 顯微鏡
HYPERION II 在的 FT-IR 顯微鏡中提供不折不扣的 QCL 顯微鏡。事實上，我們專門開發并申請了新型相干降低技術的，以實現的紅外激光成像性能—無需數字后處理。
說明：在傳統的FT-IR中，空間相干性不起作用。然而，在具有QCL的紅外顯微測試中，不可避免地會出現空間相干現象。紅外圖像和光譜中的這些條紋和斑點通常被認為化學成像的干擾。
事實上，將樣品的化學信息與描述散射光子相位關系的物理信息區分開并非易事。HYPERION II 著實解決了這個問題，并通過智能硬件設計解決了這個問題，并允許您獲取無人工處理的化學成像數據。
比較FT-IR和QCL光譜
比較這兩項技術是否意味著兩者都能同樣出色地完成同一項任務——這是一種普遍的誤解。FT-IR和紅外激光成像具有明顯的優勢，只有將兩者結合起來才能達到效果。
我們知道，大多數科學家和研究人員不想失去FT-IR的普適性。他們也不喜歡只局限于缺少參照的單一的，技術上。幸運的是，HYPERION II 可以同時兼顧：出色的 FT-IR 成像顯微鏡和潛力無限的 QCL 顯微鏡。
我們已經解決了這種二元性問題，雖然 QCL技術在相同信噪比下記錄數據的速度明顯加快，但局限于小測試范圍的MIR。同樣，我們忠實于HYPERION II的概念。您選擇。您有*的控制權。
Hyperion II 功能：
μ-FT-IR 探測器的選擇：
寬，中，窄頻段LN2-MCT，
熱電冷卻 （TE） MCT。
用于紅外成像的焦平面陣列探測器（64 x 64 或 128 x 128 像素）。
通過激光紅外成像模塊（ILIM，激光等級1）實現可選QCL
物鏡選擇：3.5x/15x/36x/74x IR、20x ATR、15x GIR、4x/40x VIS。
光譜范圍擴展 - 從近紅外線 （NIR） 到遠紅外線 （FIR）
光闌選擇：手動刀口，孔徑輪自動刀口。近紅外的金屬孔
附件和樣品臺的選擇：宏程序紅外成像配件、冷卻/加熱樣品臺、樣品倉等。
視覺/光學工具的選擇：暗場照明、熒光照明、可見光偏振器、紅外偏振器等。
Hyperion II 提供：
光譜和可見光圖片的匹配。適用于任何測量模式（包括 ATR 成像）。
突破衍射極限的高靈敏度 FT-IR 顯微鏡和焦平面陣列（FPA）檢測器成像。
通過（可選）紅外激光成像模塊（ILIM，激光等級1）將FT-IR和QCL技術結合起來。
所有測量模式下的紅外激光成像（ATR、透射、反射）。
相干降低技術為非人為處理的激光成像測試，無靈敏度或速度損失。
高成像速度：
0.1 毫米2每秒 （FPA， 全頻譜）
6.4 毫米2 每秒（ILIM，單波數）
可選的TE-MCT探測器，用于在無液氮的情況下進行高空間分辨率和靈敏度的紅外顯微鏡檢測。
發射光譜功能和可選光譜范圍擴展。
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