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上?？祫顑x器設備有限公司
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鍍層測厚儀
鍍層測厚儀MAXXI 6提供高性能、快速可靠無損的鍍層厚度測量及材料分析，確保產品質量的一致性和高品質。
高分辨率的硅漂移器（SDD）
開槽式超大樣品艙設計
8個準直器
USB接口與計算機連接
我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術，該技術已被普遍認可并且得到廣泛應用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。
鍍層測厚儀 MAXXI 6 配備多準直器系統及超大樣品艙，針對較薄而復雜的樣品，具有的解決方案。MAXXI 6 可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。
亮點
采用微聚焦X射線光管，實現高精度、高可靠性、測量時間短、購置成本低
采用高分辨率的硅漂移探測器（SDD），提供能量級別的效率，極低的檢出限（LOD）
多準直器可優化不同尺寸樣品熒光信號產額，提高測量效率
開槽式超大樣品艙設計，十分適合電路板或其他超大平板樣品
“USB接口”只需通過USB與計算機連接，無需額外的硬件或軟件
德國制造，符合工程標準，堅固耐用的設計可實現長期可靠性
通過PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）認證，滿足輻射安全標準
性能及符合性
最多同時測定5層，15種元素及共存元素的校正
同時實現多于25種元素的定量分析
檢測方法通過ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等認證
開槽式大樣品臺
可編程的XY樣品臺
樣品腔體積：500 × 450 × 170 mm
創新的防撞設計
可編程的樣品臺
預定位激光技術
的樣品臺行程范圍及速度
自動測量
軟件及校準
基于WindowsTM 7操作系統，直觀的軟件MaxxControl
選擇經驗校準以實現準確性或選擇FP無標樣模式以輕松實現校準
成分分析：可自由選擇元素；厚度測量：可自定義鍍層結構
對RoHS和貴金屬進行工廠預裝校準（可選）
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