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廣州譽立電子科技有限公司
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組合式光纖光譜儀綜合實驗
RLE-RI03 組合式光纖光譜儀綜合實驗
實驗簡介
光譜儀是通過色散元件將電磁輻射分離出特征光譜并進行強度測定的儀器。主要由狹縫，色散系統，成像系統等核心要素組成。 RealLight®開發的組合式光纖光譜儀系統以光學原理為基礎、精密機械為構架、光電信號處理為依托有機的將光-機-電-算-控 知識點應用化融合。用戶可以通過選擇不同寬度的入射狹縫和不同線對數的光柵，實現如高分辨率、寬光譜/特定波長、高靈敏度的專業定制化應用測量。實驗不僅能做原理類教學，而且可實現例如光源顏色測量、拉曼物質鑒別測量、吸光度測量、透過率測量、熒光測量等多種不同應用的精確測量，為新型人才培養建立開放化、創新型的專業實驗平臺。
實驗內容：
1、光譜儀波長分辨率計算實驗;
2、光譜儀波長測量范圍計算實驗;
3、光柵角度計算實驗;
4、光譜儀組裝調試實驗;
5、光譜儀波長校準實驗;
6、低分辨率光譜儀搭建實驗;
7、高分辨率光譜儀搭建實驗;
8、汞燈雙黃線測量與光譜儀分辨率對比實驗;
9、光譜儀波長范圍調節與光源顏色測量實驗;
10、光譜強度輻射校準實驗;
11、顏色測量應用實驗;
12、可拓展實驗：吸光度測量、透過率測量、熒光測量、拉曼測量(拓展實驗所用器件非標配) 。
知識點
光譜儀結構、光譜儀使用、波長校準、輻射校準、顏色測量、波長范圍、分辨率、靈敏度、線陣CCD、原子發射光源
選配設備參數
計算機(基本配置)。
主要設備參數
1.低線對數反射式光柵：
閃耀波長500nm，在閃耀波長下光柵效率高達60%， 600Grooves/mm， Blaze Angle： 4°
18'，低鬼影：小于主反射的0.5%;
2.高線對數刻劃衍射光柵：
閃耀波長600nm，在閃耀波長下光柵效率高達60%， 1200Grooves/mm， Blaze Angle：
4° 18'，低鬼影：小于主反射的0.5%;
3.高分辨率精密狹縫：
縫寬為25μm，直線度<0.5μm/mm;
4.高靈敏度精密狹縫：
縫寬為50μm，直線度<0.5μm/mm;
5.窄線寬半導體激光器：
波長650nm，輸出功率0～2mw連續可調，線寬<0.9nm，功率穩定性1.5%@8H，具有緩
啟動、短接保護功能。
6.TOSHIBA TCD1304線陣CCD：
3648個像元，每個像元8 µm×200 µm，信噪比300:1， AD分辨率： 12bit，可進行長時間積
分，積分時間： 4 ms-10s。
7.開放式光譜儀主機：
波長范圍330~1050nm，分辨率1~3nm，全開放式結構，可自由更換器件，可進行精確
波長校準和輻射校準，光纖接口： SMA905?？蓾M足吸光度測量、透過率測量、熒光測
量、顏色測量等應用。
8.光纖汞燈：
光纖輸出，可用于波長校準，功率穩定性2%@8H。
9.標準色溫燈：
色溫： 3350K;標稱光通量： 460lm;標稱功率： 20W;標稱電壓： 6V;
10.30V5A程控可調穩壓電源：
輸出電壓范圍： 0-30V連續可調;輸出電流范圍： 0-5A連續可調;液晶四位顯示;顯示
值精度：電壓0.5%、電流0.5%;
11.多種待測光源：
紅綠藍多種輸出。
12.實驗手冊及保修卡。
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