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上海昊量光電設備有限公司
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Mprobe20單點薄膜測量儀MProbe20是一款桌面式單點薄膜厚度測量系統，只需點擊鼠標就可進行薄膜厚度和折射率測量，測量厚度范圍1nm-1mm
Mprobe 20 單點薄膜測量儀
MProbe 20是一款桌面式單點薄膜厚度測量系統，只需點擊鼠標就可進行薄膜厚度和折射率測量，測量厚度范圍1nm-1mm。
MProbe 20可對多層膜層進行測量。
不同的MProbe 20主要由燈源的波長范圍、的波長范圍和分辨率來區分，這也決定了可以測量的材料的厚度范圍和類型。
MProbe 20基于光譜，具有快速、可靠、無損等特點。
配置包括：
控制器(包括光譜儀、光源、光控制器、微處理器)
SH200A樣品臺，帶對焦鏡頭，可微調
光導纖維反射探頭
TFCompanion -RA軟件、USB適配器(密鑰)、USB記憶棒附帶軟件發行、用戶指南等資料
根據型號和黑色吸收體的不同，校準裝置(裸硅片和/或石英板和/或鋁鏡)
測試樣品200nm的氧化硅或PET薄膜，視型號而定
USB或LAN線(用于連接主機和PC)
24VDC電源適配器(110/220V)
核心指標:
精度:<>
精度:<>
穩定性:<>
光斑大小:<>
樣本尺寸:>= 10mm
參見下面小冊子中MProbe 20薄膜厚度測量系統可用配置的詳細規格
選型列表：
MProbe 20 | 波長范圍 | 厚度測量范圍 |
Vis | 400 -1100nm | 10nm – 75 μm |
| VisHR | 700-1100nm | 1um-300um |
UVVISSR | 200 -1100nm | 1nm -50μm |
NIR | 900-1700nm | 100nm – 100μm |
VISNIR | 700-1700nm | 10nm-200μm |
UVVISNIR | 200-1700nm | 1nm -200μm |
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