Perthometer M2便攜式粗糙度測量儀
概述
此儀器的作是基于久經驗證的強大功能，使得儀器的設置如測量條件，系統語言和測量報告能方便的配置。MarSurf M2讓您得到更到的測量功能和高效的測量靈活性。
與Perthometer M1對比，此設備不僅能滿足測量的需要和測量參數的存檔要求，還能使大多數的測量參數和特性曲線根據DIN/ISO/JIS標準的要求哦進行輪廓評定。
更多的，MarSurf M2 提供了內置的存儲器，可用于存儲高達200組測量結果和實現公差監測，垂直顯示比例的調整，用于計算粗糙度峰頂數使用的不對稱截止線設置。
Perthometer M2便攜式粗糙度測量儀特點
·測量范圍高達150μm
·測量單位μm/μin 可選
·評定標準：DIN/ISO/JIS 和CNOMO (Motif) 可選
·依照DINENISO4288/ASMEB461標準的測量長度選擇：1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm；依照ENISO12085標準：1mm；2mm；4mm；8mm；12mm；16mm
·截止波長可從 1 至5自由選擇
·依照標準的測量波長及測量長度自動選擇
·依照DINENISO11562標準的相位修正輪廓濾波器
·可選擇截止波長有0,25 mm/0,8 mm/2,5 mm(0,01 in/0,032 in/0,100 in)
·可選擇短截止波長
·依照DIN/ISO/SEP標準的評定參數：Ra, Rz, Rmax, Rp, Rq, Rt, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Mr, Sm, RPc；
·依照JIS標準的評定參數：Ra, Rz, Ry, Sm, S, tp; Motif
·標準的評定參數：R, Rx, Ar, W, CR, CF, CL (3-區域測量)
·可顯示公差及輸出測量報告中
·顯示比例可自動或手動選擇
·可打印R-輪廓(ISO/JIS), P-輪廓(Motif), 材料率曲線, 等測量報告
·測量報告可輸出測量日期及時間
·內置存儲卡可存儲200組測量數據
·動態傳感器校準
·鎖定功能可避免儀器參數被意外修改并能設置任意密碼保護
Perthometer M2便攜式粗糙度測量儀主要技術指標
相對誤差: ≤±5%
測量原理：指針電感觸方式
測量范圍：100 um
測量速度：0.5 mm/s
輪廓分辨率：12 nm
濾波：高斯 | 相關產品： |
