IEC60529試驗探棒 IP1X試驗探棒|IEC61032圖1|Test probe A 基本簡介: 1、根據GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應條款制作而成。
技術參數: 1、探球直徑:50mm 2、擋板直徑:50mm 3、擋板厚度:4mm 4、手柄直徑:10mm 5、手柄長度:100mm 6、根據IEC61032圖1(Test probe A) 。
IP2X試驗探棒|IEC61032圖2|Test probe B 產品概述: 符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標準要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。
技術參數: 1、彎指直徑:12 mm 2、彎指長度:80mm(三節總長度) 3、擋板直徑:50mm 4、擋板長度:100mm 5、參考標準:GB4706.1-2005第8.1.1條、IEC61032:1997 圖2
IP3X試驗探針|IEC61032圖3|Test probe C 基本簡介: 1、根據GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應條款制作而成。
技術參數: 1、探棒長度:100mm 2、探棒直徑:2.5mm 3、檔球直徑:35mm 4、手柄直徑:10mm 5、手柄長度:100mm 6、根據IEC61032圖3(Test probe C) 、GB/T4208-2008表6。
IP4X試驗探針|IEC61032圖3|Test probe D 基本簡介: 1、根據GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應條款制作而成。