當前位置：上海捷鈦儀器設備有限公司>>生物成像系統>>納米傅里葉紅外光譜儀

納米傅里葉紅外光譜儀

返回列表頁

參考價:￥300000 - ￥800000 /套

具體成交價以合同協議為準

產品型號
品牌
其他品牌
廠商性質
經銷商
所在地
上海市

在線詢價收藏產品查看聯系電話

聯系方式：胡經理查看聯系方式

更新時間：2024-04-29 16:27:03瀏覽次數：175次

聯系我時，請告知來自環保在線

產品分類 品牌分類

  生物成像系統

全部產品列表

  其他品牌

上海捷鈦儀器設備有限公司

經營模式：經銷商

商鋪產品：61條

所在地區：上海上海市

聯系人：胡經理（銷售）

詢價 給他留言

產品簡介

產地	國產

納米傅里葉紅外光譜儀

在不使用任何模型矯正的條件下，nano-FTIR獲得的近場吸收光譜所體現的分子指紋特征與使用傳統FTIR光譜儀獲得的分子指紋特征吻合度*（如下圖），這在基礎研究和實際應用方面都具有重要意義，因為研究者可以將nano-FTIR光譜與已經廣泛建立的傳統FTIR光譜數據庫中的數據進行對比，從而實現快速準確的進行納米尺度下的材料化學分析。對化學成分的高敏感度與***的空間分辨率

詳細介紹

應用案例：

對納米尺度污染物的化學鑒定

AFM表面形貌圖像 (左), 在Si片基體（暗色區域Ｂ）與PMMA薄膜（Ａ）之間可以觀察到一個小的污染物。機械相位圖像中（中），對比度變化證明該污染物的是有別于基體和薄膜的其他物質。將點Ａ和Ｂ的nano-FTIR 吸收光譜（右），與標準紅外光譜數據庫對比，獲得各部分物質的化學成分信息. 每條譜線的采集時間為7min

nano-FTIR 可以應用到對納米尺度樣品污染物的化學鑒定上。下圖顯示的Si表面覆蓋PMMA薄膜的橫截面AFM成像圖，其中AFM相位圖顯示在Si片和PMMA薄膜的界面存在一個100nm尺寸的污染物，但是其化學成分無法從該圖像中判斷。而使用nano-FTIR在污染物中心獲得的紅外光譜清晰的揭示出了污染物的化學成分。通過對nano-FTIR獲得的吸收譜線與標準FTIR數據庫中譜線進行比對，可以確定污染物為PDMS顆粒。

技術參數配置：

■ 反射式 AFM-針尖照明
■ 標準光譜分辨率: 6.4/cm-1
■ 無背景探測技術
■ 基于優化的傅里葉變換光譜儀
■ 采集速率： Up to 3 spectra /s

■ 高性能近場光譜顯微優化的探測模塊
■ 可升級光譜分辨率：3.2/cm^-1
■ 適合探測區間：可見，紅外(0.5 – 20 nm)
■ 包括可更換分束器基座
■ 適用于同步輻射紅外光源 NEW!!!

關鍵詞：光譜儀