美國AAI過程分析儀 返回列表頁

品牌：美國AAI

立特OMA-300過程分析儀是一個二級管陣列光纖過程分光光度計，連續測量試樣的吸收光譜。它包括一個光源、一個用于選擇特定波長的色散裝置、一個取樣系統和一個檢測器。OMA使用一個鎢、氙或氘氣光源（視應用而定），一個全息光柵根據其波長來分散光，一對光纖探頭發射和接受通過流通池中試樣的光譜，使用一個二極管陣列檢測器來將光強度轉化為電信號。通過特征多波長方法連續測量和分析特征組分對特征光譜的吸收，從而計算出物流中的特征組分的濃度。 OMA-300設計旨在低成本高效率和精確連續的濃度監測的在線應用。一個簡單的觸屏用戶界面是單一和多種成分分析的理想選擇，可以快速設置和標定。范圍200-1100 nm的波長可以通過2048個元件組成的二極管陣列進行連續和即時監測。分析儀的固定存儲器區包括計算方法、波長范圍和在屏幕上顯示的被分析物的名稱。標準輸出包括4-20mA輸出和數字I/O。由于分析儀使用了Modbus通信協議，可以很容易地與外部設備進行通信，如：DCS、PLC、RTU控制器等

硫化氫       氨          二氧化硫          芳烴          界面監測           硫醇         

苯酚            氯          添加劑            臭氧          二氧化氯（Dyox）     顏色                  

金屬離子    溴          過氧化氫         氧化氮        特定波長鑒定 

 

精確的單一組分和多組分濃度測量   特   點

無可動部件－維護量低

光纖探頭－分體測量

友好的觸屏操作界面

Modbus 通訊協議,以太網TCP IP輸出

便于操作和維護

OMA-300過程分析儀技術規格
 波長范圍 190-800nm   400-1100nm 
 光隙寬度 1nm 
 EP分辨率 > 1.6，已烷中的甲苯。
 在269nm/266nm的比值吸收 
 波長精度 < +/-0.5nm （NIST 2034） 
 波長重復性 < +/-0.04nm （NIST 2034） 
 光度精度 +/-0.005 （NIST ´930E） 
 光度噪音 < 0.002AU 32 scans at 0 AU at 250nm 
 光度穩定性 < 0.002AU/h at 0 AU at 340nm +-10C 
 操作溫度 0℃-55℃ （32℉-130℉） 
 防爆等級 Class 1 Div.1 Group C, B & D（自選） 
 模擬輸出 兩個電絕緣的4-20mA 
 故障繼電器 兩個SPDT報警繼電器 
 顯示器 1/4″VGA，NEMA 4觸摸屏
 LCD顯示（340×240 pixels） 
 功率 80-240 Volts AC; 40-60 Hz; 20 W 
 分析儀尺寸 16″H ×14″W × 8″D（ 410×360×200） 
 溫度 -50℃至300℃ （-60℉至570℉） 
 壓力 200bar （3000psi） 
 溫度 -20℃至150℃ （-4℉至302℉） 
 壓力 10bar （147psig）標準