正義ZCTC-1250涂層測厚儀 返回列表頁

·采用了磁性和渦流兩種測厚方法，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。

·分體（傳感器與儀器之間通過引線連接）、兩用（F型N型合一）。

·*的溫度補償算法。

·具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。

·具有統計功能：平均值（MEAN）、值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）。

·具有存儲功能：可存儲500 個測量值。

二、技術參數：

F型探頭：

·工作原理：磁感應

·測量范圍：0μm～1250μm

·分辨力：0.1μm（0~50μm ），1μm（>50μm ）

·測量誤差：3%H+1μm

·示值誤差：一點校準(um)  ±(3%H+1)

            二點校準(μm) ±[(1～3)%H+1]

·測試條件：最小曲率半徑(mm)      凸1.5

            最小面積的直徑(mm)    Φ7

基體臨界厚度(mm)      0.5

N型探頭：

·工作原理：電渦流

·測量范圍：0μm～1250μm；其中銅上鍍鉻0μm～40μm

·分辨力：0.1μm（0~50μm ），1μm（>50μm ）

·測量誤差：3%H+1μm

·示值誤差：一點校準(um)  ±(3%H+1.5)

            二點校準(μm) ±[(1～3)%H+1.5]

·測試條件：最小曲率半徑(mm)      凸3

            最小面積的直徑(mm)    Φ5

基體臨界厚度(mm)      0.3