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半導體質量管控影像測量儀YXCL200
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型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/8/7 14:46:05 對比

半導體質量管控影像測量儀YXCL200可測幾何量三維多傳感器YXCL2002D/3D尺寸表面粗糙度形狀公差
精密機械加工質量管控影像測量儀YXCL200
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精密機械加工質量測量儀YXCL200可測幾何量三維多傳感器YXCL2002D/3D尺寸表面粗糙度形狀公差
電路板質量管控影像測量儀YXCL200
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電路板質量管控影像測量儀YXCL200可測幾何量三維多傳感器YXCL2002D/3D尺寸表面粗糙度形狀公差
三維復合式影像測量儀YXCL200
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三維復合式影像測量儀 YXCL200可測幾何量三維多傳感器YXCL2002D/3D尺寸表面粗糙度形狀公差
可測幾何量,三維多傳感器YXCL200
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三維多傳感器測量系統可測幾何量三維多傳感器YXCL2002D/3D尺寸表面粗糙度形狀公差線面輪廓度
三維多傳感器測量系統,YXCL200
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三維多傳感器測量系統YXCL2002D/3D尺寸表面粗糙度形狀公差線面輪廓度偏差顏色分析
CCCL01微納尺寸測量儀
CCCL01微納尺寸測量儀可用于印制電路板微切片、精密機械零件、晶圓刻蝕微結構、光通訊器件、精密模具、磁性材料、精密沖壓、手機精密配件、醫療器械、鐘表、刀具、計...

型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/8/7 14:30:23 對比

晶圓刻蝕微結構測量拼圖功能探測各種精密微觀二維尺寸特征段差、角度、平面度測量精密機械零件

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