wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8600簡介
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8600系列是一款黃綠光表面檢查燈(或者是白光),檢測燈的原理利用適合的LED燈源,通過光學鏡片折射出特殊波長的光源,照在工件表面折射出光路,使得操作員肉眼可識別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點,取代傳統的照明設備和光學系統機臺,直接通過照明光線和肉眼,觀測出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵,極大的節省了一般工廠的采購成本。 SL8600檢查燈采用人眼最敏感510-590NM之間波長光,來做與明確的判別,可精確檢查到1um以下的刮痕或微粒子,并且具有綠光和黃光2種顏色的復合光,幾乎可檢測出所有塵埃,大大降低產品不良率。使用壽命為2萬小時以上。光源強度可達30萬LX,最小可以檢測1μ的表面臟污,比傳統的檢查燈,效用增強10倍.SL8600可根據使用場景,使用便攜手持式或桌面式(上在底座上即可)。(注意:SL8900和SL8600主要的區別是,SL8600的體積小,SL8600亮度只有30萬LX,SL8900的亮度是40萬LX)
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8600參數規格
型號:SL8600-GY高照度晶圓LED檢查燈;晶圓顆粒缺陷檢查燈;Wafer表面檢查燈光 源:30W 高亮度進口LED加定制的光學鏡片; LED平均壽命是30000小時
照度:距離40cm → 20萬lx;距離30cm → 30萬 lx(我們掌握了核心技術,我們可以提供不同照度的平行燈,它們可滿足不同客戶的要求)
照射面積: 8-16cm直徑的光圈 在40cm的距離(通過調焦距調光)
調光方式: 無極調光:從0% ~ 99%;消耗功率:30 W
電源:采用110-220V電源供電(交流供電),可以24小時持續無間斷工作。
平行光強的穩定性: > 90 %
產品尺寸:73 * 180mm; 凈重: 0.68KG(不含配件)
產品型號 | SL8600-W白光晶圓檢查燈 | SL8600-GY黃綠光晶圓檢查燈 | 備注 |
LED的數量和規格 | 1個進口30W 6000K LED 加定制的光學透鏡和定制濾光片 | 可以按照客戶的要求定制 |
通常6000K白光,510-590NM黃綠光;有特殊要求的可以定制 365NM;455NM;595NM;625NM的波長 wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8600產品型號 SL8600-365紫外燈;SL8600-455藍色燈;SL8600-G綠光檢查燈;SL8600-Y黃光的檢查燈 |
檢查燈的波長 | 6000K 白光 | 510-600NM黃綠光 |
檢查燈的亮度 | 21萬LX→距離40cm; 30萬LX→距離30cm; | 20萬LX→距離40cm; 30萬LX→距離30cm; |
我們掌握了核心技術,我們可以 提供不同照度的檢查燈,它們可滿足不同客戶的要求 |
照射面積(單位MM) | ? 8- 16cm 在40cm的距離 |
調光方式 | 無極調光:通過調光器0-99%調光;旋轉頭部,通過調整焦距,可以擴大和縮小照明面積 |
使用壽命 | 30000小時 |
尺寸和凈重 | 尺寸:73 *180毫米; 凈量:0.68KG不包含配件 |
可選配件 | 防護眼鏡 |
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8600特點
1.1個大功率LED,.真正冷光源,亮度達到30萬LX;照度相當200瓦的汞燈
2.LED使用壽命高達3萬個小時;壽命是汞燈的10倍
3.使用定制的光學透鏡和濾光片,檢查燈的均勻性能達到80%以上;
產品的光均勻性及光斑大小,經檢測證實效果要優于日、德同類產品。
4.發黃綠光和白光,人眼易感知且又不傷眼,可精確檢查到10um以下的刮痕或微粒子;
5. 合理的外觀設計,無風扇式散熱設計—機械散熱,能提供均勻且高亮度特殊波長和色溫的檢查光源;
6:可選擇不同波段光源:365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意選擇其中的一種波;
白光:刮傷以及對不同層次的鍍膜均勻或微污染有很好的效果。
綠光:微刮傷、粉塵異物、液晶玻璃,70%以上的表面不良都可以被檢出。尤其是表面的微刮傷。
黃光:微刻模具、半導體晶圓、藍寶石。對鍍膜檢查效果不錯。
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8600應用
液晶玻璃、微刻模具、半導體晶圓、藍寶石……表面瑕疵檢測