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FEI掃描電鏡Verios XHR SEM 詳細摘要: FEI掃描電鏡Verios XHR SEM是 FEI 的 XHR(分辨率)SEM 系列的第二代產品.在半導體制造和材料科學應用中,它可在 1 至 30 kV 范...
產品型號:Verios XHR SEM 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
日本電子臺式掃描電鏡JCM-7000 NeoScope™ 詳細摘要: 日本電子臺式掃描電鏡JCM-7000 NeoScope™ 是以"誰都可以操作的SEM/EDS"為理念的臺式掃描電子顯微鏡, 標配Zeromag、Li...
產品型號:JCM-7000 NeoScope™ 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
Quattro E掃描電鏡 詳細摘要: Thermo Scientific?Quattro環境掃描電子顯微鏡(ESEM)是一款多功能,高性能儀器,配有場發射槍(FEG),具有出色的分辨率和射束電流穩定...
產品型號:Quattro E 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡 詳細摘要: JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統...
產品型號:JEM-F200 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
FEI掃描電鏡Q25 / Q45 詳細摘要: FEI掃描電鏡Q25 / Q45對于失效分析、質量控制和材料表征而言、Q25是、的高分辨成像和分析應用的解決方案.在設計上側重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他...
產品型號:Q25 / Q45 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
FEI掃描電鏡Prisma E材料科學 詳細摘要: FEI掃描電鏡Prisma E材料科學掃描電子顯微鏡(SEM)將各種成像和分析模式與新的自動化相結合,為同類儀器提供最完整的解決方案.它非常適用于需要高分辨率,...
產品型號:Prisma E 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
FEI掃描電鏡Explorer 4分析器 詳細摘要: FEI掃描電鏡Explorer 4分析器是一種掃描電子顯微鏡,設計用作質量控制,生產過程優化,故障分析和盈利能力的工業顯微鏡解決方案.
產品型號:Explorer 4 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
FEI掃描電鏡Apreo 詳細摘要: FEI掃描電鏡Apreo革命性的復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術,可產生的高分辨率和信號選擇.這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理...
產品型號:Apreo 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
FEI 掃描電子顯微鏡Teneo 詳細摘要: FEI 掃描電子顯微鏡Teneo可為金屬研究人員、學術和工業研究機構提供超高分辨率成像和通量分析性能.
產品型號:Teneo 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
FEI掃描電子顯微鏡 詳細摘要: FEI掃描電子顯微鏡基于Windows XP的圖形用戶界面, 簡單易用。
產品型號:Inspect S50 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
場發射掃描電子顯微鏡 詳細摘要: Inspect F50 場發射掃描電子顯微鏡系統操作和維護方便, 同時可安裝各種掃描電鏡的附件。
產品型號:Inspect F50 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
日本電子掃描電鏡JSM-IT300 詳細摘要: 日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的鎢燈絲掃描電鏡。性的前衛性外觀設計還特別吸引眼球。
產品型號:JSM-IT300型 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
日本電子熱場發射掃描電鏡 詳細摘要: 日本電子熱場發射掃描電鏡JSM-7001F是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺。
產品型號:JSM-7001F 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
日本電子熱場發射掃描電子顯微鏡 詳細摘要: 熱場發射掃描電子顯微鏡JSM-7600F是兼顧冷場的高分辨率和熱場大束流為一體的熱場發射掃描電鏡。
產品型號:JSM-7600F 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
掃描電子顯微鏡 詳細摘要: 掃描電子顯微鏡JSM-6701F是一臺場發射掃描電子顯微鏡,采用冷陰極場發射槍、高真空和精密的數字技術,可進行顯微結構的高分辨率、高質量成像。
產品型號:JSM-6701F 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
冷場發射掃描電子顯微鏡 詳細摘要: 冷場發射掃描電子顯微鏡JSM-7500F是一款功能強大,操作簡便,節約能源的分析型場發射掃描電子顯微鏡。
產品型號:JSM-7500F 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
透射電子顯微鏡 詳細摘要: 透射電子顯微鏡JEM-1400是一款擁有成像和分析能力一體的高性能,高對比度,操作簡便的120KV透射電子顯微鏡。
產品型號:JEM-1400/1011 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
掃描電鏡IT100 詳細摘要: 桌面型掃描電子顯微鏡SEM表面分析儀IT100通過多點觸控技術和操作軟件,操作直觀簡單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能,舒適便捷。
產品型號:日本電子掃描電鏡IT100 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
日本電子掃描電子顯微鏡 詳細摘要: 掃描電子顯微鏡JASM-6200(ASEM)是和在其上方設置的光學顯微鏡構成,能夠在大氣壓下觀察樣品。
產品型號:JASM-6200 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
JEOL可移動式掃描電子顯微鏡 詳細摘要: JEOL可移動式掃描電子顯微鏡JCM-5700是一臺在任何地方都可以使用的高性能可移動式掃描電子顯微鏡。
產品型號:JCM-5700 所在地: 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言