| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,農業,地礦,建材,綜合 |
涂層測厚儀
【主要功能】
● 采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。
● 具有兩種測量方式:連續測量方式和單次測量方式
● 具有三種測量模式:高精度測量模式可對多次測量取平均，并對可疑數據進行自動過濾，可確保測量值更加準確、穩定;快速測量模式可實現實時掃描功能。
● 具有溫度補償功能:實時溫度補償技術可自動對環境溫度及測頭溫度改變引起的測量誤差進行補償，使測量更準確。
● 設有五個統計量:平均值( MEAN)、 值( MAX)、最小值( MIN )測試次數(NO.)、標準偏差(S.DEV )。
● 可采用零點校準、單點校準或兩點校準法對儀器進行校準并可用基本校準和溫度系數校準法對測頭的系統誤差進行修正。
● 具有存儲功能:最多可存儲500個測量值。
● 具有刪除功能:對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存儲區內的所有數據，以便進行新的測量。
● 可設置限界:對限界外的測量值自動報警。
● 具有電源電量指示功能。
● 操作過程有蜂鳴聲提示。
● 說有三種關機方式：手動關機方式，超時自動關機方式以及低電量自動關機方式，并可設置超時自動關機等待時間。
涂層測厚儀
【技術參數】
項目 | Leeb252C | ||
測頭類型 | F1 | N1 | |
工作原理 | 磁感應 | 電渦流 | |
測量范圍 | 0~1500μm | 0~1500μm | |
低限分辨率 | 100um以下0.1um,100um以上1um | ||
示值wu cha | 零點校準 | ±（3%H+1） | |
兩點校準 | ±[（1~3%)H+1] | ||
測試條件 | 最小曲率半徑mm | 凸1.5 | 凹3 |
最小面積直徑mm | Φ7 | Φ5 | |
基本臨界厚度mm | 0.5 | 0.3 | |
工作環境 | 溫度 | 0~40℃ | |
濕度 | 20%~90% | ||
電源 | 二節7號堿性電池（1.5V） | ||
外形尺寸 | 112×70×23mm（主機） | ||
重量 | 約80g | ||
標準配置 | 主機、標準試片、基體、AAA型堿性電池 | ||
【校準方法】
本儀器提供兩種測量中使用的校準方法:零點校準和兩點校準;以及兩種針對探頭的校準方法:基本校準
零點校準
在不同基體上進行測量時重新進行零點校準，當校準使用的基體與待測試件基體性質偏差較大時,測量值將會產生偏差。可使用以下兩種方法之一進行零點校準:
方法1:a)在基體上進行一次測量 ，屏幕顯示< xxμm>。
b)在提起測頭之后長按“校正" 鍵，屏顯<0.0um>，校準完成。
方法2:可短按“校正" 進入校準界面，對基體進行測量，按“確認"鍵，然后跳過下一個界面“測量(1000um)時,按“跳過"鍵校準完成。
兩點校準
這一校準法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼、合金鋼。
a)可短按“校正"進入校準界面，對基體進行零點校準，屏幕顯示
b)按提示測量(1000um)的標準片，屏幕顯示< xxxum>。按“確認"鍵確認。(或沒有1000um的標準片時，找厚度接近的膜片代替，需要在儀器上設置膜片的厚度，操作方法如下,在提示測量( 1000um )的標準片時，按“設置"鍵，進入設置校正值界面，按“∧"“∨"鍵來調整膜片的厚度值，然后按"確認“鍵確認，返回到校正界面,這里測量( xx xum )就做相應的改變了。
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