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膜厚測試儀的工作原理,當心損壞機器
涂鍍層測厚儀的相關工作原理之近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術,利用磁阻來調制丈量信號。還采用設計的集成電路,引入微機,使丈量精度和重現性有了大幅度的進步(幾乎達一個數目級)。現代的磁感應測厚儀,分辨率達磁感應測厚儀_電渦流丈量原理_磁吸力丈量原理及測厚儀_電渦流原理的測厚儀到0.1um,應誤差達1%,量程達10。
膜厚儀采用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可丈量,如航天表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過校準同樣也可丈量,但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。
膜厚儀也叫X射線測厚儀,它的原理是物質經X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態,此物質必需將多余的能量釋放出來,而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度,來進行定性和定量分析。
膜厚儀分類
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.
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