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西凡儀器（深圳）有限公司
西凡儀器（深圳）有限公司
探測器：AMETEK定制版Si-PIN探測器 精準度：±0.03%(999金) 分辨率：145±5eV 額定功率： 150W 規格尺寸：420mmx350mmx300mm 儀器重量：32KG
XRF-K5貴金屬檢測儀是西凡儀器針對貴金屬成分檢測的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于黃金回收、珠寶首飾工廠、展廳和銀行等行業和單位。該產品自帶IPS液晶屏及電容觸摸屏及采用美國進口定制Si-PIN探測器，內置I3雙核CPU工控電腦，采用45度角光路以及全新的Smart FP算法。檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，性價比。
貴金屬檢測儀XRF-K5產品特點
元素檢測范圍：鉀K(9)～鈾U(No.92)
可支持最多30個元素同時計算
分析范圍：0.010%～99.999%
檢測精度：±0.03%(999金)
檢測樣品：貴金屬合金/液體
定制TCP/IP協議API接口，支持外網對設備的控制、狀態監控及數據采集
支持多點連續測試，測試效率高
軟件界面簡潔明了，支持多種自定義報告
貴金屬檢測儀XRF-K5核心部件
探測器：AMETEK定制版Si-PIN探測器
探測器面積：6mm2
分辨率：145±5eV
內置工控電腦：Intel i3雙核電腦+win11系統
高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源
X射線管：50KV/1mA
窗口材料：玻璃窗
靶材：鎢
焦點：? 0.5mm
準直器：?2.0mm
貴金屬檢測儀XRF-K5規格
輸入電壓：AC100～240V，50Hz
產品包裝尺寸：566mmx531mmx560mm
產品尺寸：420mmx350mmx300mm
樣品艙尺寸：297mmx294mmx80mm
額定功率：150W
毛重：51KG（包含UPS）
凈重：32KG
噪音：<50dB
使用環境：
溫度：15℃～31℃
濕度：<70%（不結露）
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