日本(Nikon)尼康XT H 225 工業CT掃描系統
泛應用于小型鑄件,塑料零件檢測,材料研究等領域的型CT
在零件內部組裝的信息獲取與測定,質量管理,故障分析,材料研究等應用中。裝備了強力的225kV微焦點X射線源的XTH225系列,帶給我們高清晰度的X光圖像以及CT圖像
適用于車間的功能
多年來,X射線CT一直用于實驗室中的樣品內部檢測,例如化石和人工制品等。最近,該技術在制造環境的質量控制應用中發揮著重要作用。
它能夠無損檢測零件和裝配件內部的空隙、毛刺、裂紋和其他缺陷,包括額外制造的零件和裝配件。它還可以作為一種計量工具,用以確保內部和外部尺寸符合高精度要求。然而,制造商們已不滿足于僅在制造過程中“精益求精"。他們在車間使用CT實時調整生產線,以防止零件超出公差范圍。
XT H 225 ST 2x結合了我們的專業硬件和創新軟件,因此具備各種應用中所需的高效性、可靠性和準確性。它支持用戶新產品從研發到建立生產線、預試生產到批量生產的各個環節, 直至最終投入市場。
靈活滿足不同需求
XT H 225 ST 2x可配置業界的平板探測器,可達2880×2880像素(150µm)。該系統具有切換X射線靶、馬達移動FID和選擇測量模式的功能,是一種非常靈活的工具,可應對各種樣品和檢測挑戰。這意味著XT H 225 ST 2x不僅適用于快速連續檢測,同樣也適用于研發工作、預生產支持、質量控制和故障分析。
XT H 225 X射線和CT檢測系統,可供工業應用工業零部件內外全檢
外部零件和總成特征的詳細測量對于質量控制、失效分析和材料研究而言通常是非常重要的。XT H系統可提供強大的X射線源,超大的檢測體積和較高的X射線和CT成像分辨率。
XT H 系統可采用225kV電源,可選用旋轉目標,適合于各種應用,包括小鑄件檢測、塑料件及材料研究。
一種射線源可配四種靶
一個225千伏微焦點源加上四個可選X射線靶頭實現了其靈活性。所有靶均可由用戶切換以優化系統性能,切換過程快速且毫不費力。因此避免了購買和維護第二源管和附件的額外成本。反射靶是我們的標準配置,焦點尺寸低至 3µm,可為各種應用提供合適的分辨率和功率。另一方面,旋轉靶使用30W以上功率和同功率下三分之一小的焦點,可以在高功率下保持非常清晰的圖像,并減少掃描物體所需的時間。透射靶可提供小于1μm的焦點,以獲得更高的清晰度。通常在材料分析中,使用低能量的X射線發射有效,可以用多金屬靶來實現。除了標準鎢(W)靶外,操作者還可以選擇銀(Ag)、鉬(Mo)和銅(Cu)。
行業的檢測器技術
Nikon Metrology使用業界的平板探測器,可實現更小的像素和更快的曝光。然而,面板技術的功能只有與兼容的微焦點X射線源匹配時才能發揮作用。
XT H 225 ST 2x提供了這種兼容性,正因如此,Rotating.Target2.0產生的高功率使探測器能夠以更快的曝光時間工作,從而實現超快的數據采集。高功率X射線的微焦點特性加上探測器的小像素和大面積優勢,使得數據集具有高質量和高分辨率。
HALF.TURN CT,快速CT采集
樣品檢測時通常需要將樣品旋轉360度,而射向樣品的X射線不是被吸收就是穿透,對此Nikon Metrology設計了一種方法,使樣品只需旋轉超過180度即可獲得足夠的數據。
我們的重構軟件開發由公司自主控制,能夠引入新的自動旋轉中心計算,并優化重構算法,從而促進了半轉的誕生。這些技術的共同作用消除了由樣品旋轉不足360度而產生的偽影。因此,只需一半傳統CT所需數據即可自動生成同等質量和精度的圖像。
ROTATING.TARGET 2.0
Nikon Metrology工業CT系統優勢還包括旋轉靶技術,可顯著提高掃描速度和信噪比。這是由于靶可以生成高功率X射線,并同時保持微焦點。版本Rotating.Target 2.0的優化設計使正常運行時間延長了一倍。以8000轉/分的轉速旋轉鎢靶,結合液體冷卻,提高了入射電子束小光斑產生熱量的散熱效率。與僅依靠其材料特性(如導熱系數)進行冷卻的固定大功率靶相比,旋轉靶具有顯著的優勢。它可以實現連續運行和連續掃描,無需冷卻,功率450瓦,無需切換至其他靶。
控制軟件
Inspect-X軟件在X射線CT市場中極其優秀。它直觀、易用,簡化了復雜樣品的CT掃描過程,有利于準確檢測。該軟件由Nikon Metrology公司自主開發,旨在簡化采集和重構CT數據的過程。
對于新手用戶而言,最關鍵的是其智能化可以隨時為他們提供當前所需信息,因此簡化了任務流程。高級用戶可以利用對源和平板探測器的所有設置,以及采集技術和設置的熟練掌握,將系統自定義至當前掃描樣品的狀態。從而獲得的控制體驗,并可按需自定義測量,例如延時CT或在生產線內集成檢測系統。
馬達移動FID
由于X射線強度隨著源和平板探測器之間距離的增加而降低,為了補償任何通量損失,用戶通常必須增加X射線源功率,這會使焦點變大,或者延長探測器曝光時間,這會使掃描時間變長。
XT H 225 ST 2x具有馬達移動FID(焦點到探測器距離)調整功能,因此用戶無需增加X射線功率或延長探測器曝光時間。用戶可以選擇較短的FID,以便在使用低功率X射線時,為給定分辨率提供更快的掃描時間或更高的信噪比。
批量CT檢測
Nikon Metrology的Inspect-X軟件允許用戶保存配置文 件,以便日后調用。配置文件定義了所有采集和分析參數,確保了整個CT過程的可重復性。
? 無需編程技能
? 簡單的操作界面
? 無需手動選擇參數
? 操作員可以自由執行其他任務
半自動CT檢測
需要手動操作的環節是裝入多零件樣品架。零件識別、程序選擇、數據采集、分析和報告自動化。
? 自動零件識別
? 與制造數據庫集成
? 統計過程控制(SPC)
在線CT檢測
在線CT檢測是對應自主生產環境中,需要檢 測具有復雜幾何形狀關鍵零件的解決方案。
? 與機器人和輸送系統集成
? 快速檢測和過程變化反饋
? 實時控制和優化生產
主要特點:
高速旋轉靶(選配件)可以使X射線束增幅達到五倍,實現了在同一掃描時間內CT數據精度更高,CT數據獲取也更加快速。
? 225kV的強力射線管(選配旋轉靶)
? 實時的X射線可視化,迅速的CT 數據重構
? 可編程化的5軸操作樣品臺
? 可自定義宏讓檢測工作流程自動化
? 針對多用途設計的3種不同大小的鉛房防護外殼(標準,ST,LC)
引進功能:
? 將靈活性整合到一個系統里:X射線快速可視化檢測,CT重構精密解析
? 快速獲取高品質圖像
? 人機交互式操作桿導航界面使用快速直觀
? 高清晰度數字圖像與圖像處理
? 不需要特別外加防護的完備安全系統
? 通用于業界標準的后處理應用格式
用途:
? 精密的塑料零件,小型鑄件,復雜的機械裝置、CAD實物比對等等的評價與測定
? 詳細的故障原因分析
? 高級材料學研究與生物學的構造分析
? 模型的數據轉換與保存
? 組裝裝配的問題分析
優點:
? 可靈活地整合在單個系統中:X射線可用于快速目視檢測,CT可用于深入分析快速數據采集和高質量圖像;
? 可利用交互式操縱桿導航功能進行快速操作 高分辨率數字成像和處理;
? 嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統,無需任何特殊的預防措施或安全警示標志;
? 可與行業標準后處理應用緊密集成
產品規格及參數;
X射線源 | 探測器 |
類型 | 開管微焦點 | 有效面積 | 432 mm × 432 mm |
靶選項 | 反射靶 、Rotating.Target 2.0 、透射靶 、多金屬靶 | 像素矩陣 | 2,880 × 2,880 |
能量 | 225 kV | 最小像素尺寸 | 150 µm |
功率 | 450 W | 幀速率 | 30 fps |
最小焦點 | 1 µm | 類型 | ASTM E 2597 |
系統 | 機柜 |
CT掃描直徑 | 255 mm | 長度 | 2,414 mm |
FID (焦點到成像儀的距離) | 標稱1,110 mm | 寬度 | 1,275 mm |
FID類型 | 馬達移動 | 高度 | 2,202 mm |
樣品重量 | 50 kg | 重量 | 4,200 kg |
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