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X射線熒光分析儀/礦石分析儀

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更新時間：2023-01-16 10:07:11瀏覽次數：1080次

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產品簡介

X射線熒光分析儀/礦石分析儀質量穩定實行全過程質量監控，細致入微，檢測！價格合理高效內部成本控制，減少了開支，讓利于客戶！交貨快捷充足的備貨，縮短了交貨期！......

詳細介紹

礦石分析儀

EDX 5500B X射線熒光分析儀是利用XRF技術解決復雜成份中元素的快速、準確分析。該技術的主要特征為：利用低能X光激發待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率；采用SDD硅漂移探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩譜裝置，保證了儀器工作的一致性；利用解譜技術使譜峰分解，對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術使分類更準確，有效地克服基效應對測量帶來的影響；采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。

臺式X射線熒光分析儀能量色散EDX光譜儀的型號：EDX 5500B

X光管：Rh靶材；50W；

高壓：50KV；1mA

探測器：SDD（硅飄移探測器）

配置真空裝置，包括真空泵

測試元素：S、P、Mn、Fe、Cr、Ni、Si、Al、Ca 等等

X射線熒光分析儀的基本原理：

當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為 10-12-10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應，亦稱次級光電效應或效應，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收，而是以輻射形式放出，便產生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。它的能量是特征的，與入射輻射的能量無關。因此，X射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應的關系。莫斯萊(H.G.Moseley) 發現，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學意義表達如下：

λ=K(Z-s)-2

這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數，因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定性分析和定量分析

產品技術指標：

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）

元素含量分析范圍：1ppm—99.99%

同時分析元素：24種元素同時分析

測量鍍層：鍍層厚度測量至0.005微米，可分析5層以上的鍍層

分析精度：0.05%

測量對象狀態：粉末、固體、液體

測量時間：60s—200s

能量分辨率為：（150±5）eV

管壓：5KV—50KV