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杭州乾儀科技有限公司
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A1/A1R+是日本尼康共聚焦產品系列中的作品，從畫質、靈敏度、成像速度、多功能性、操作舒適性等多角度滿足了用戶對熒光顯微成像的要求。
A1/A1R+是日本尼康共聚焦產品系列中的**作品，從畫質、靈敏度、成像速度、多功能性、操作舒適性等多角度滿足了用戶對熒光顯微成像的要求。 功能強大的尼康Ti-E電動熒光顯微鏡： ? 共聚焦成像專用物鏡： 新開發的高NA物鏡采用了寬波長范圍內的高準確度色并矯正，從紫外線到紅外線；尼康**納米結晶涂層技術可提高光的透過率，CFI Plan Apo λS系列物鏡提供紫色到紅外的色差校正，可滿足多色熒光成像對定位精度的要求。
納米結晶涂層技術，降低反射光能量比例，提高透射的能量比例： ? PFS對焦系統： 尼康PFS系統已成功發展到第三代技術，甚至是雙光子成像時也可以應用。這樣，在長時間照相、增加試劑同時照相均能保障圖像清晰可靠。 多種提高熒光檢測靈敏度的方法： ? 高效率的六邊形電動針孔：在不影響光切厚度的情況下，比四邊形針孔提高了30%的光透過率。 ? 低激光入射角的高透過率BM分光系統：由于采用低入射角照明，反射帶波長范圍窄，透射帶波長范圍寬，有效地提高了熒光檢測的透過率。 ? VAAS虛擬可變針孔檢測系統：在標準的四通道檢測器基礎上附加四個檢測通道，用于檢測焦平面附近的熒光信息，通過對焦平面上和焦平面附件圖像信息的反卷積和重構，可獲得明亮但不影響光切厚度的熒光圖像，提高了熒光圖像的檢測靈敏度。 ? GaAsP高靈敏度檢測器：磷砷化鎵檢測器在綠光和紅光波段的量子效率是傳統PMT的兩倍，通過這種高靈敏度檢測器，可以提高熒光檢測速度或者提高弱熒光信號的亮度。 混合掃描技術： ? XY雙檢流計掃描系統：線掃描速度可達5200線/秒，幀掃描速度可達10幀/秒（512X512像素）或130幀/秒（512X32像素）。 ? 共振X掃描加檢流計Y掃描系統：線掃描速度可達15600線/秒，幀掃描速度可達30幀/秒（512X512像素）或420幀/秒（512X32像素）。 ? 雙掃描系統同步掃描成像技術：由于兩套掃描系統的掃描視野數都是FOV18，A1R+可以通過雙檢流掃描計對感興趣區域進行光刺激，通過共振X+檢流計Y掃描系統進行同步掃描成像。該功能為揭示分之間的相互作用提供了強大的實驗手段。 強大的光譜成像技術： ? 包括四個PMT熒光光譜通道，可同時采集4通道熒光圖像和1通道透射DIC圖像。 ? DEES技術：通過調制熒光偏振方向提高衍射光柵的衍射效率，提高高譜圖像的亮度！ ? 32通道同步采集熒光信號，一次性采集XY平面的全光譜序列圖像，速度極快！ 功能強大、操作簡便的共聚焦成像分析軟件： ? NIS-Elements軟件具有強大的照相控制功能，它可以控制包括尼康CCD相機在內的流行的CCD相機進行拍照，可以控制尼康電動顯微鏡設備及其他顯微鏡自動廠家的OEM電動操作部件。 ? 具有多達6維的多維顯微照相功能。 ? 具有多維圖像顯示、處理和分析功能，具有多維圖像AVI制作功能。 ? 包括FRET、FRAP、光活化等特殊應用模塊 ? 支持單分子定位超高分辨率顯微拍照模塊。 ? 對于顯微鏡成像結果，NIS-Elements還具有動態和靜態圖文報告的強大功能。 高質量的圖像：
強大的功能擴展性能： ? A1+/A1R+掃描頭具有兩個可見光激光輸入端口：最多可同時控制7根激光器照明； ? A1+/A1R+掃描頭具有三個熒光檢測出口：支持常規熒光成像、光譜成像、FLIM成像等多種成像技術； ? 在相同的激光光源和軟件控制條件下，支持隨機定法超高分辨率熒光成像。 |
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