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上海彼愛姆光學儀器制造有限公司
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更新時間:2024-06-26 07:59:15瀏覽次數:109次
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15JF(數顯型)測量顯微鏡一、用途15JF測量顯微鏡(數顯型)是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,采用3"TFT顯示屏直讀,操作方便,適用范圍極廣,主要用途如下:1.直角坐標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔外圓直徑等等
15JF(數顯型)測量顯微鏡一、用途15JF測量顯微鏡(數顯型)是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,采用3"TFT顯示屏直讀,操作方便,適用范圍極廣,主要用途如下:1. 直角坐標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔外圓直徑等等。2. 轉動度盤測定角度,例如對刻度盤、樣板、量規、鉆孔模塊及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。3. 用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。鑒定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等等。一、技術規格1、光學系統規格物 鏡目 鏡顯微鏡 放大倍數工作距離 (mm)視場直徑(mm)放大倍數焦距 (mm)放大倍數焦距 (mm)2.5×/0.0843.4010 帶分劃板25.0025×58.845.610×/0.2517.13100×7.811.42、測量工作臺讀數裝置主要規格:采用LED上下可調光源,X、Y測量結果均采用3"TFT顯示屏直讀,公英制轉換X軸移動測量范圍:50mmY軸移動測量范圍:13mm數顯分辨率:0.001mm測量臺轉動范圍:不限測量臺刻度盤分度范圍:0°~360°測量臺刻度盤之分度值:1°測量臺刻度盤游讀數示值:6′測量地點溫度(20°C±3°C)測量精度:儀器值誤差±(5+L/15)um[注:L—被測件長度(mm)]3、主要尺寸測量臺與物鏡間之*大距離:80mm測量工作臺直徑:120mm四、選購件1、計算機成像系統:CCD攝像頭、CCD適配鏡、外置式圖像視頻采集卡(A/D)2、數碼相機系統 :數碼相機、90度數碼適配鏡、轉接器3、數碼攝像機系統:便攜式數碼攝像機、數碼圖像適配鏡(攝像型)、轉接環4、數字CMOS攝像機:(130萬/300萬/500萬/1000萬)、MCL-Z適配鏡五、儀器成套性序 號名稱單位數量l主機臺12物鏡2.5X只13物鏡10X只14光源:上下LED照明只各15產品使用說明書份16產品合格證明份17產品保修卡份1
15JF測量顯微鏡(數顯型)是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,采用3"TFT顯示屏直讀,操作方便,適用范圍極廣,主要用途如下:
1. 直角坐標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔外圓直徑等等。
2. 轉動度盤測定角度,例如對刻度盤、樣板、量規、鉆孔模塊及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3. 用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。鑒定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等等。
1、光學系統規格
2、測量工作臺讀數裝置主要規格:
采用LED上下可調光源,X、Y測量結果均采用3"TFT顯示屏直讀,公英制轉換
X軸移動測量范圍:50mm
Y軸移動測量范圍:13mm
數顯分辨率:0.001mm
測量臺轉動范圍:不限
測量臺刻度盤分度范圍:0°~360°
測量臺刻度盤之分度值:1°
測量臺刻度盤游讀數示值:6′
測量地點溫度(20°C±3°C)
測量精度:儀器值誤差±(5+L/15)um
[注:L—被測件長度(mm)]
3、主要尺寸
測量臺與物鏡間之*大距離:80mm
測量工作臺直徑:120mm
1、計算機成像系統:CCD攝像頭、CCD適配鏡、外置式圖像視頻采集卡(A/D)
2、數碼相機系統 :數碼相機、90度數碼適配鏡、轉接器
3、數碼攝像機系統:便攜式數碼攝像機、數碼圖像適配鏡(攝像型)、轉接環
4、數字CMOS攝像機:(130萬/300萬/500萬/1000萬)、MCL-Z適配鏡
15J測量顯微鏡
15JF(數顯型)測量顯微鏡
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